AVM360 VELLEMAN 12
4.5 ACV TEST OP UITGANGSBUS (OUTPUT TERMINAL)
1. Het rode meetsnoer wordt met de OUTPUT-bus verbonden en het zwarte meetsnoer aan de - COM ingangsbus.
2. Stel het gewenste meetbereik in d.m.v. de functieschakelaar.
Verbind de meetsnoeren aan de te meten schakeling en lees de waarde af op dezelfde manier als bij de ACV
test. Zo'n meting wordt gebruikt om de DC spanning aanwezig in de schakeling, uit te filteren, zodat enkel de AC
componente uitgelezen kan worden.
4.6 Iceo TRANSISTOR TEST
1. Sluit de meetsnoeren met de COM en de + ingangsbussen aan.
2. Stel de functieschakelaar op x10 (15mA) voor een kleine transistor, of op x1 (150mA) voor een grote transistor.
3. Regel 0Ω ADJ om de wijzer op nul van de Ω schaal te zetten.
4. Verbind de transistor met de meter:
Voor een NPN transistor, sluit u de "N" bus van de meter met de COLLECTOR (C) van de transistor en de "P"
bus van de meter met de EMITTER (E) van de transistor.
Voor een PNP transistor, wisselt u de aansluitingen aan de NPN transistor.
5. Lees de Iceo schaal. Indien de wijzer zich in de LEAK zone bevindt of indien de pointer op volle schaal staat, is
de geteste transistor niet meer goed. In de andere gevallen is het een goede transistor.
4.7 hFE (DC versterking) TRANSISTOR TEST
1. Stel de functieschakelaar op x 10.
2. Regel 0Ω ADJ af om een nul positie te bekomen.
3. hFE (DC versterking) test.
4. Lees af van de hFE schaal. De afgelezen waarde is Ic / Ib, die de DC versterkingsfactor is van de geteste
transistor.
4.8 DIODE TEST
1. Stel de functieschakelaar op het gewenste bereik:
x 1K voor 0 - 150 µ A test,
x 100 voor 0 - 1.5 mA test,
x 10 voor 0 - 15 mA test,
x 1 voor 0 - 150 mA test.
2. Verbind de diode met de meter.
Voor een test van I
F
(voorwaartse stroom), verbindt u de "N" bus van de meter met de positieve polariteit (anode)
van de diode en de "P" bus van de meter met de negatieve polariteit (kathode) van de diode. Voor een test van
I
R
(sper stroom), wisselt u de verbindingen om.
3. Lees I
F
of I
R
op de LI schaal.
4. Lees de lineaire (voorwaartse) spanning van de diode op de LV schaal terwijl u I
F
of I
R
aan het testen bent.
Voor NPN transistor Voor PNP transistor